高低溫試驗(yàn)箱的應(yīng)用技術(shù)分成三大類：1、溫度對(duì)試樣的危害，2、高溫標(biāo)準(zhǔn)下試樣的失效模式，3、超低溫標(biāo)準(zhǔn)下試樣的失效模式

 

　　1.溫度對(duì)試樣的危害

 

　　溫度有關(guān)實(shí)驗(yàn)是自然環(huán)境實(shí)驗(yàn)新手入門，包含高溫實(shí)驗(yàn)、超低溫實(shí)驗(yàn)、溫度轉(zhuǎn)變實(shí)驗(yàn)。高低溫試驗(yàn)關(guān)鍵認(rèn)證商品在極值溫度標(biāo)準(zhǔn)下是不是產(chǎn)生形變或作用危害，是不是能夠一切正常運(yùn)行。溫度轉(zhuǎn)變實(shí)驗(yàn)關(guān)鍵檢測(cè)商品不斷承擔(dān)溫度極值的耐受性。

 

　　2.高溫標(biāo)準(zhǔn)下試樣的失效模式

 

　　商品所應(yīng)用零件、原材料在高溫時(shí)將會(huì)產(chǎn)生變軟、效率減少、特點(diǎn)更改、潛在性毀壞、空氣氧化等狀況。

 

　　高溫自然環(huán)境對(duì)機(jī)器設(shè)備的關(guān)鍵危害有：

 

　　a.填充料和密封膠條變軟或溶化;

 

　　b.潤(rùn)滑液黏度減少，蒸發(fā)加速，潤(rùn)化功效減少;

 

　　c.電子線路可靠性降低，絕緣層毀壞;

 

　　d.加快纖維材料和絕緣層材料脆化，包含空氣氧化、裂開(kāi)、化學(xué)變化等;

 

　　e.原材料澎漲導(dǎo)致機(jī)械設(shè)備地應(yīng)力擴(kuò)大或損壞擴(kuò)大。

 

　　3.超低溫標(biāo)準(zhǔn)下試樣的失效模式

 

　　商品所應(yīng)用零件、原材料在超低溫時(shí)將會(huì)產(chǎn)生開(kāi)裂、脆裂、移動(dòng)部卡住、特點(diǎn)更改等狀況。

 

　　超低溫自然環(huán)境對(duì)機(jī)器設(shè)備的關(guān)鍵危害有：

 

　　a.使原材料發(fā)硬變脆;

 

　　b.潤(rùn)滑液黏度提升，流動(dòng)性工作能力減少，潤(rùn)化功效減少;

 

　　c.電子元件特性產(chǎn)生變化;

 

　　d.水冷疑結(jié)凍;

 

　　e.液壓密封件無(wú)效;

 

　　f.原材料收攏導(dǎo)致機(jī)械系統(tǒng)轉(zhuǎn)變。