事實(shí)上多個(gè)物體可以在低溫試驗(yàn)箱中檢測(cè)，但對(duì)試件檢測(cè)點(diǎn)的位置和數(shù)量有什么要求嗎？今天，小編分享了測(cè)試設(shè)備檢測(cè)點(diǎn)的位置和數(shù)量。

　　在低溫試驗(yàn)箱中，一般會(huì)有上、中、下三個(gè)水平的考試面。上層與頂部的距離一般為實(shí)驗(yàn)室高寬比的十分之一，工作室?guī)缀沃行囊话銥橹袑?，下層在底層樣品架上?0毫米左右。

 

　　測(cè)試設(shè)備的測(cè)試樣品可以放在這三個(gè)測(cè)試水平上，用于管理中心測(cè)試的測(cè)試部件可以放置在工作室的幾何中心。從其他測(cè)試部件到工作室壁的間距一般為各周長(zhǎng)的1/10。對(duì)于工作容量不超過(guò)1m3的測(cè)試設(shè)備，間距應(yīng)大于50mm。

 

　　關(guān)于實(shí)驗(yàn)室容量與試件總數(shù)的關(guān)系：如果低溫試驗(yàn)箱工作室的整體容量小于2m3，試件數(shù)量一般為9，如果容量超過(guò)2m3，試件數(shù)量一般為15，試件總數(shù)一般根據(jù)工作室容量的增加而增加。

 

　　通過(guò)以上介紹，您是否對(duì)低溫試驗(yàn)箱的檢測(cè)位置和數(shù)量有一個(gè)簡(jiǎn)單的了解？如果您想了解更多，您可以咨詢專業(yè)技術(shù)人員。儀器用于測(cè)試電子產(chǎn)品或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境循環(huán)變化下的存儲(chǔ)和適應(yīng)性，設(shè)備的應(yīng)用可以優(yōu)化某些材料的選擇，在低溫環(huán)境中，隨著客戶對(duì)測(cè)試設(shè)備需求的增加，我們推出了不同尺寸的設(shè)備規(guī)格，設(shè)備采用高密度保溫層，具有良好的保溫效果，同時(shí)使用微機(jī)控制，顯示相關(guān)溫度數(shù)，箱內(nèi)溫度可調(diào)，設(shè)備自動(dòng)化程度高，歡迎客戶參觀我們的設(shè)備，討論項(xiàng)目合作。